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BetaScan Elite S1

A lightweight high-speed blue laser 3D scanner for fast, fine and deep-hole scanning, quickly capturing stable 3D data from industrial parts.

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Scanner 3D haute précision BetaScan Elite S1

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Applications industrielles

BetaScan Elite S1 Scan rapide, fin et de trous profonds dans un seul appareil

High-speed, fine and deep-hole scanning in one device, capturing metrology-grade 3D data with stability.

Highest Accuracy

0.020mm

Highest Scan Rate

8,300,000 measurements/s

Max Scan Area

650mm×550mm

Volumetric Accuracy

0.015mm+0.035mm/m

Highest Resolution

0.01mm

Multiple Scan Modes

Fast scan Fine scan Deep-hole scan

Précision maximale

0,020 mm

Cadence de numérisation maximale

7 100 000 mesures par seconde

Largeur de numérisation maximale

650 mm x 550 mm

Précision volumétrique maximale

0,015 mm + 0,025 mm/m

Résolution maximale

Jusqu’à 0,01 mm

Plusieurs méthodes de numérisation

Numérisation haute vitesse, numérisation de précision, numérisation de trous profonds

Spécifications techniques

Model		BetaScan S1	BetaScan Elite S1
Scanning Mode	High-speed scanning	26 crossed blue laser lines	50 crossed blue laser lines
	Precision scanning	17 parallel blue laser lines	17 parallel blue laser lines
	Deep hole scanning	1 single blue laser line	1 single blue laser line
Accuracy		up to 0.020mm
Measurement rate		6,000,000 measurements/s	8,300,000 measurements/s
Scanning area		up to 650mm×550mm
Laser class		Class II (Eye safe)
Resolution		up to 0.01mm
Volumetric accuracy		0.015mm+0.035mm/m 0.015mm+0.025mm/m (working with photogrammetric scale bar)
Working distance		300mm (200mm fine mode)
Depth of field		550mm
Output formats		stl, ply, obj, txt etc.
Operating temperature		-10°C to 40°C
Product dimensions		L×W×H：340×145×70mm
Product weight		1.15kg
Interface type		USB 3.0
Minimum computer requirements		OS: Windows 10 or later (64-bit required) GPU: NVIDIA GTX/RTX series (e.g., RTX 4060 or higher) VRAM: 8 GB or more CPU: Intel Core i7-13700H or better RAM: 32 GB or higher

※ According to the VDI/VDE 2634 part 3 standard and the JJF 1951-2021 calibration specification for optical three-dimensional measurement systems based on structured light scanning.

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